分析测试技术论坛第15讲: 小角X射线散射仪专场——讲座一: 材料介观结构的SAXS和GISAXS研究

讲座名称: 分析测试技术论坛第15讲: 小角X射线散射仪专场——讲座一: 材料介观结构的SAXS和GISAXS研究
讲座时间 2018-03-25
讲座地点 分析测试共享中心一楼北109教室
讲座人 徐耀
讲座内容
分析测试技术论坛第15讲: 小角X射线散射仪专场
中心新安装的小角X射线散射仪(Anton Paar SAXSpoint 2.0)是西北地区第一台SAXS设备,它是纳米材料和高分子材料微尺度结构分析的利器。该设备配备了Cu/Mo双微焦斑X射线源,二维混合光子计数探测器(EIGER R 1M),以及各种原位附件,如掠入射样品台、高低温样品台、拉伸样品台、湿度样品台、流动样品槽、原位高压反应样品槽等。
本期论坛主要面向从事纳米材料和高分子材料研究的师生,邀请国内知名专家和厂商工程师共同通过具体案例研讨纳米粉体粒径和空隙大小、形状及粒度分布,高分子粒子的大小和形状、共混的高聚物相结构分析、长周期、支链度、分子链长度及其在热、力等条件下的原位变化过程。

 

讲座一:
讲座题目: 材料介观结构的SAXS和GISAXS研究
讲座时间: 2019年3月25日,14:30-16:30
讲座地点: 分析测试共享中心一楼北109教室
讲座人:  徐耀(研究员、博导)
讲座内容:
小角X射线散射仪主要可以进行透射模式(SAXS)和反射模式(GISAXS)测试,SAXS的样品主要为粉末和溶液,GISAXS的样品主要为薄膜。本次报告主要介绍SAXS理论基础,SAXS技术在介孔材料的精确孔结构、胶体结构解析、碳纤维介观结构上的研究和应用,和GISAXS技术在介孔薄膜的精细结构上的研究和应用。

 

讲座人介绍

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