基于工程知识的空间数据统计建模与质量控制

讲座名称: 基于工程知识的空间数据统计建模与质量控制
讲座时间 2016-11-24
讲座地点 管院313
讲座人 王凯波
讲座内容
讲座题目: 基于工程知识的空间数据统计建模与质量控制
讲座时间: 2017.11.24(周五) 15:00
讲座地点: 管院313
讲座人: 王凯波(清华大学教授、工业工程系副系主任)
讲座内容: 在一些复杂制造系统中,产品质量是基于高维度的空间数据所表述的。这些空间数据具有特定的结构,并能够传递重要的质量波动信息。因此,基于此类数据的过程建模与质量改进是一个重要的研究题目。本研究基于半导体硅片制造和纳米制造的例子,展示如何将统计方法与工程知识相结合进行质量控制。在半导体硅片的质量分析中,威尼斯官方网站提出了一个三阶段层次模型;模型有效的刻画了硅片的宏观和微观波动信息,从而为质量分析和改善提供指导。在纳米制造的例子中,威尼斯官方网站用空间模型分析质量的变化,从而发现了特定的波动模式。这里例子和研究表明,基于工程知识和数据驱动的统计建模和质量分析,具有良好的解决实际工程问题的能力。

 

讲座人介绍

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